多數顯微鏡系統都受限於其景深——這代表在整個成像或檢測過程中,樣品必須始終保持在物鏡的對焦範圍內。然而,熱漂移、更換不同倍率的物鏡等外部因素,都會讓樣品失焦。手動重新對焦往往耗時且不切實際,限制了原本應該全自動運作的顯微系統效能。解決之道,就是採用自動對焦系統。

透過自動對焦系統,可以快速找到目標焦點,並自動重新調整,長期穩定維持對焦。

自動對焦技術正在下列領域日益普及:

  • 表面粗糙度檢測
  • 印刷電路板製程的品質管制
  • 雷射束銲接
  • 雷射束劃線
  • 微生物研究
  • 超解析顯微
  • 衛星影像

高品質的自動對焦系統能節省時間,並顯著提升影像擷取的品質與速度。

piezosystem jena 的 MIPOS 物鏡定位器在 Z 軸提供最高 600 µm 的行程,並相容各大廠牌物鏡(Zeiss、Nikon、Leica、Olympus 等)。搭配使用者自訂的回授控制,即可用於穩定並維持樣品對焦。

此外亦提供最多 5 軸運動的多款定位平台,可精確定位樣品、使其保持在焦點上。

自動對焦技術橫跨多種產業

Focal Point(美國愛達荷州 Boise)將 MIPOS 產品整合進其自動對焦系統。兩者的結合提供了高速對焦、長期穩定性、以及數奈米以內的卓越精度。

Focal Point 技術長 Dan Marshall 表示:「我們正好填補了市場當前的需求——一套不易受工業環境中傾斜與繞射效應影響的穩定系統;未來我們還將推出對焦量測與控制技術上更大幅度的改進,敬請期待。」