多数显微镜系统都受限于其景深——这代表在整个成像或检测过程中,样品必须始终保持在物镜的对焦范围内。然而,热漂移、更换不同倍率的物镜等外部因素,都会让样品失焦。手动重新对焦往往耗时且不切实际,限制了原本应该全自动运作的显微系统效能。解决之道,就是采用自动对焦系统。

透过自动对焦系统,可以快速找到目标焦点,并自动重新调整,长期稳定维持对焦。

自动对焦技术正在下列领域日益普及:

  • 表面粗糙度检测
  • 印刷电路板制程的品质管制
  • 雷射束銲接
  • 雷射束划线
  • 微生物研究
  • 超解析显微
  • 卫星影像

高品质的自动对焦系统能节省时间,并显著提升影像撷取的品质与速度。

piezosystem jena 的 MIPOS 物镜定位器在 Z 轴提供最高 600 µm 的行程,并相容各大厂牌物镜(Zeiss、Nikon、Leica、Olympus 等)。搭配使用者自订的回授控制,即可用于稳定并维持样品对焦。

此外亦提供最多 5 轴运动的多款定位平台,可精确定位样品、使其保持在焦点上。

自动对焦技术横跨多种产业

Focal Point(美国爱达荷州 Boise)将 MIPOS 产品整合进其自动对焦系统。两者的结合提供了高速对焦、长期稳定性、以及数奈米以内的卓越精度。

Focal Point 技术长 Dan Marshall 表示:「我们正好填补了市场当前的需求——一套不易受工业环境中倾斜与绕射效应影响的稳定系统;未来我们还将推出对焦量测与控制技术上更大幅度的改进,敬请期待。」